Das Boundary-Scan Testverfahren ist ein elektrisches Testverfahren für Elektronik-Baugruppen ohne mechanische Antastung auf der Leiterplatte. Dabei muss lediglich der Testbus an den Prüfling angeschlossen werden. Mit diesem Testverfahren können Baugruppen ohne Prüfpads bereits ab dem Prototypenstatus schnell und zuverlässig geprüft werden.
Die mechanische Antastung auf elektrische Schaltungsknoten ist stark eingeschränkt oder nicht mehr möglich, wenn auf der Leiterkarte Bausteine wie z. B. "Ball-Grid-Arrays" (BGA), "Chips on Board" (COB) oder "Quad Flat No Leads" (QFN) vorhanden sind. Hier hat Boundary-Scan seine Stärke. Durch die Kombination der verschiedenen Boundary-Scan Testarten lassen sich Fehler in der Baugruppe schnell und sicher lokalisieren.
Boundary Scan Testarten:
Infrastrukturtest Interconnection-Test Speicher-Tests Clustertests BausteinprogrammierungenIdealerweise lassen sich damit auch Bausteinprogrammierungen von z. B. Flashes und PLD´s innerhalb der Schaltung durchführen.
Mittels Clustertests können auch Non-Boundary-Scan Bausteine geprüft werden.
Wir unterstützen unsere Kunden, indem wir die Testapplikation erstellen. Sie können dann die Applikation übernehmen und die entsprechenden Prüfungen in Ihrem Haus selbst durchführen. Wahlweise führen wir auch die Prüfungen als Auftragsarbeit für Sie durch. Selbstverständlich unterstützen wir Sie bei Design- und Schaltungsänderungen der Baugruppen.
Wenn Sie sich weitergehend informieren möchten, nutzen Sie doch unseren kostenlosen Informationstag, den wir ca. halbjährlich durchführen. Sie können sich gleich hier vormerken lassen und bekommen dann eine entsprechende Einladung von uns zugeschickt.
Zur Anmeldung für den Informationstag >>
Bei Bedarf können Sie die:
"Design-Regeln für die Boundary-Scan-Prüfung" und unsere Broschüre:"Einführung in die Boundary-Scan-Prüfung" anfordern:
Design-Regeln und Broschüre anfordern >>
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Ihre Vorteile:
Prüfung von Baugruppen, bei denen der Testzugriff begrenzt oder nicht möglich ist. Kurze Testzeiten Effiziente Prüfmöglichkeit für komplexe Baugruppen Programmierung von bestückten Bausteinen Präzise und schnelle Fehleranalyse